向量網路分析儀
SNA5000A 向量網路分析儀系列
產品特點
- 頻率範圍：9 kHz~8.5GHz ; 100 kHz- 26.5 GHz
- 輸出功率設置範圍：-55 dBm ~ +10 dBm
- 動態範圍：125dB
- 支援 2/4 端口散射參數(S參數)、差分參數和時域參數測量
- 支援一鍵測量濾波器的Q因數、帶寬和插入損耗
- 支援 阻抗轉換、夾具模擬和適配器拔插調整
- 可選的頻譜分析儀和 TDR 功能
產品圖片
SNA5000A 向量網路分析儀系列
產品功能與優勢
【影片介紹】《SNA5000A》Vector Network Analyzer 向量網路分析儀 全新升級 頻率範圍再擴大
低雜訊基底，高動態範圍
系統動態範圍是VNA一個非常重要的指標，它是VNA源的最大輸出功率與測試端口雜訊基底的差值。
SNA5000A擁有高達125 dB@10Hz IFBW的動態範圍，雜訊基底低至-125dBm/Hz，可適用於對動態範圍要求比較高的測試場景，如：同時測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。。
先進的外觀設計
不管是在研發還是在現代化的生產線，區別於傳統笨重的向量網絡分析儀，
SNA5000A靈巧的外觀設計都能為工程師與產線節省出大量的空間。
多樣的測量與顯示模式
SNA5000A 支援散射參數測量、差分參數測量、接收器測量、時間域參數分析、極限測試、漣波測試、增強型時域分析 (TDR)。
快捷鍵可添加軌跡和視窗以進行完整的 4 端口 S 參數測量。
各種類型的顯示模式包括 Log Mag、Lin Mag、Phase、Delay、Smith、SWR、Polar，可便捷的分析待測物的傳輸和反射係數、SWR、阻抗匹配、相位、延遲。
增強型時域分析功能及眼圖功能
SNA5000A的TDR選項包含兩部分: TDR / TDT (時域反射/傳輸)和 眼圖遮罩測試功能。
TDR時域反射計測量功能，可在時域對傳輸線的特徵阻抗，時延等參數進行分析，有助於定位故障點及分析故障對待測物特性的影響。
SNA5000A內建虛擬觸發器可模擬生成眼圖遮罩測試功能，提供高性能的波形模擬功能以及抖動注入模擬功能，可用於查看抖動信號對信號傳輸的造成影響。
夾具校準
在微波射頻領域中，如何有效地消除測試夾具誤差是一項巨大的挑戰。
比如在對SMD器件進行測試時需要特定的測試夾具實現測試儀器測試端與器件輸入端的轉接，導致測試結果中包含了測試夾具的特性。
目前SNA5000A系列提供端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉換，去嵌入，轉接器移除等功能，用以達成消除測試夾具所帶來的誤差從而提高校準精度。
自定義校準套件
- SNA5000A保護客戶在校準套件上的投資。
- SIGLENT不僅提供各種校準套件，還支援其他供應商的校準套件。
- SIGLENT校準套件涵蓋了頻率範圍從DC到9GHz的通用/精密級別的要求。
- SIGELNT的校準套件包括短路、斷路、負載和直通 (SOLT)，並帶有3.5毫米或N型的連接器類型。
- 客戶還可以添加自定義的校準套件，滿足特定的校準要求。
